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高溫介電溫譜儀的介紹

日期:2020-07-24瀏覽:1782次

  高溫介電測(cè)量系統(tǒng)用于分析寬頻、高溫條件下被測(cè)樣品的阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量,同時(shí)還可以分析被測(cè)樣品隨溫度、頻率、時(shí)間、偏壓變化的曲線,是專業(yè)從事材料介電性能、溫度弛豫、電弛豫研究的理想測(cè)試工具。用戶通過軟件可以直接得出介電常數(shù)和介電損耗、阻抗譜、磁導(dǎo)率、機(jī)電耦合系數(shù)等隨溫度、時(shí)間、頻率、偏壓變化的曲線,HGJW-800高溫介電測(cè)量系統(tǒng)是功能陶瓷器件實(shí)驗(yàn)室*電學(xué)性能評(píng)估設(shè)備。
  HGJW-800系統(tǒng)搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的hcpro軟件,具備彈性的自定義功能,可進(jìn)行頻率、溫度、時(shí)間、測(cè)試項(xiàng)等設(shè)置,符合絕緣材料測(cè)試多樣化的需求。
  本高頻介電溫譜系統(tǒng)主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學(xué)性能測(cè)試,系統(tǒng)包含高溫爐膛,阻抗分析儀,微電流表,夾具,測(cè)試軟件于一體,可測(cè)試材料的介電常數(shù),介質(zhì)損耗,阻抗譜Co-Co圖,機(jī)電耦合系數(shù)等,同時(shí)可分析被測(cè)樣品隨溫度,頻率,時(shí)間變化的曲線,測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購。
  公司開發(fā)的高溫阻抗、介電測(cè)量系統(tǒng)軟件將高溫測(cè)試平臺(tái)、高溫測(cè)試夾具可與安捷倫(是德科技)、穩(wěn)科、同惠等廠家的LCR測(cè)量設(shè)備無縫連接實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)完成高溫環(huán)境下的阻抗、介電參數(shù)的測(cè)量與分析。另外,還可根據(jù)用戶提供的其他LCR品牌或型號(hào)完成定制需求。軟件可根據(jù)實(shí)驗(yàn)方案設(shè)計(jì),通過測(cè)量C和D值,自動(dòng)完成介電常數(shù)和介電損耗隨頻率、電壓、偏壓、溫度、時(shí)間多維變化的曲線。一次測(cè)量,同時(shí)輸出,測(cè)量效率高、數(shù)據(jù)豐富多樣。


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