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日期:2024-04-19瀏覽:713次
鐵電薄膜鐵電性能測試及相關(guān)測試設(shè)備
一、鐵電性能簡介:
鐵電體:在一定溫度范圍內(nèi)存在自發(fā)極化,自發(fā)極化具有兩個或多個可能的取向,其取向可能隨電場而轉(zhuǎn)向.鐵電體并不含“鐵",只是它與鐵磁體具有磁滯回線相類似,具有電滯回線,因而稱為鐵電體。在某一溫度以上,它為順電相,無鐵電性,其介電常數(shù)服從居里-外斯(Curit-Weiss)定律。
鐵電相與順電相之間的轉(zhuǎn)變通常稱為鐵電相變,該溫度稱為居里溫度或居里點Tc。鐵電體即使在沒有外界電場作用下,內(nèi)部也會出現(xiàn)極化,這種極化稱為自發(fā)極化。自發(fā)極化的出現(xiàn)是與這一類材料的晶體結(jié)構(gòu)有關(guān)的。晶體的對稱性可以劃分為32種點群。在無中心對稱的21種晶體類型種除432點群外其余20種都有壓電效應,而這20種壓電晶體中又有10種熱釋電現(xiàn)象。熱釋電晶體是具有自發(fā)極化的晶體,但因表面電荷的抵償作用,其極化電矩不能顯示出來,只有當溫度改變,電矩(即極化強度)發(fā)生變化,才能顯示固有的極化,這可以通過測量一閉合回路中流動的電荷來觀測。
熱釋電就是指改變溫度才能顯示電極化的現(xiàn)象,鐵電體又是熱釋電晶體中的一小類,其特點就是自發(fā)極化強度可因電場作用而反向,因而極化強度和電場E 之間形成電滯回線是鐵電體的一個主要特性。自發(fā)極化可用矢量來描述,自發(fā)極化出現(xiàn)在晶體中造成一個特殊的方向。晶體中,每個晶胞中原子的構(gòu)型使正負電荷重心沿這個特殊方向發(fā)生相對位移,使電荷正負重心不重合,形成電偶極矩。整個晶體在該方向上呈現(xiàn)極性,一端為正,一端為負。在其正負端分別有一層正和負的束縛電荷。
束縛電荷產(chǎn)生的電場在晶體內(nèi)部與極化反向( 稱為退極化場),使靜電能升高,在受機械約束時,伴隨著自發(fā)極化的應變還將使應變能增加,所以均勻極化的狀態(tài)是不穩(wěn)定的,晶體將分成若干小區(qū)域,每個小區(qū)域內(nèi)部電偶極子沿同一方向,但各個小區(qū)域電偶極子方向不同,這些小區(qū)域稱為電疇或疇,疇的間界叫疇壁。疇的出現(xiàn)使晶體的靜電能和應變能降低,但疇壁的存在引入了疇壁能??傋杂赡苋O小值的條件決定了電疇的穩(wěn)構(gòu)型。
二、實驗目的:
1、了解什么是鐵電體,什么是電滯回線。
2、了解鐵薄膜材料的功能和應用前景。
3、使用設(shè)備:Huace FE-3000鐵電分析儀
三、實驗原理
1、鐵電體的特點
(1)電滯回線
推薦使用Huace FE-3000鐵電分析儀,適用于鐵電薄膜、鐵電體材料(既可塊體材料)的電性能測量,可測量鐵電薄膜電滯回線、可地測出具有非對稱電滯回線鐵電薄膜的Pr值。
其主要技術(shù)指標:
1.輸出信號電壓::薄膜:0~±10V 陶瓷、材料:0~±2000V
2.輸出信號頻率:薄膜材料1-1000HZ,陶瓷:0-1Hz
3.電容范圍:1000nf~ 100nf, 精度: ≤1%。
4.電流范圍: 1nA~10A ,精度: ≤1%。
5、測試樣品:0-20mm 5個
6、高壓樣品池:2個,一個封閉式:8CM*6CM 一個開放式:8CM*5CM
7、探針臺:一個
8、電流:1-10倍放大,信號:1-20倍。.數(shù)據(jù)結(jié)口:USB或BNC接口。
9. 數(shù)據(jù)采集分析軟件: 能畫出鐵電薄膜的電滯回線,定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場Ec、漏電流等參數(shù);可以進行鐵電薄膜材料的鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測試,電阻測量,漏電流測量。
10.可以配合相關(guān)壓電測試儀操作系統(tǒng)
2、實驗內(nèi)容
測量鐵電薄膜樣品的電滯回線,畫出電滯回線及得到鐵電薄膜材料的飽和極化±Ps、剩余極化±Pr、矯頑場±Ec、電容量C等參數(shù)。
【實驗步驟】
1. 準備工作:首先開啟計算機,閱讀儀器說明書。
2. 初始化:在低電壓(100V)下運行測量軟件,開啟測量儀,并檢查探針位置是否正確。
3. 確定高壓區(qū)間V :調(diào)整高電壓和低電壓, 觀察能出現(xiàn)標準電滯回線的最大和最小的 電壓值,并記錄為Vmax和Vmin,高壓區(qū)間為V = Vmax* Vmin。值得注意的是,軟件中輸入的高壓值在本次試驗的試驗儀上通常達不到,因此需要輸入比目標電壓更高 一些的電壓值,電壓值以實際高壓為準。(備注:高壓區(qū)間指的是保持標準電滯回線的zui 低和最高電壓。)
4. 測量電滯回線:在剛剛確定的那個電壓范圍內(nèi),選擇五個電壓值,間隔為?V /5,分別測量在這五個電壓值下的電滯回線,并且保留電滯回線測量數(shù)據(jù)。
5. 拷貝并帶回電滯回線測量數(shù)據(jù),以便于后續(xù)數(shù)據(jù)處理使用。
6. 實驗結(jié)束后,先關(guān)閉測量儀,后關(guān)閉計算機。
7. 用電滯回線測量數(shù)據(jù),計算相應的數(shù)據(jù)Pr、Ps、Ec。