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基礎(chǔ)信息Product information
產(chǎn)品名稱:

北京華測(cè)*四探針測(cè)試儀器

產(chǎn)品型號(hào):HCTZ-2S

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

所在地:北京市

更新日期:2023-08-28

產(chǎn)品簡介:

北京華測(cè)*四探針測(cè)試儀器是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的,于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成,測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示,亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。

產(chǎn)品特性Product characteristics
品牌華測(cè)

四探針測(cè)試儀

產(chǎn)品名稱:四探針測(cè)試儀

產(chǎn)品型號(hào):HCTZ-2S

品牌:北京華測(cè)


北京華測(cè)*四探針測(cè)試儀器產(chǎn)品介紹

HCTZ-2S北京華測(cè)四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的,于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率方塊電阻(薄層電阻)的儀器。儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成,測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示,亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。

HCTZ-2S北京華測(cè)四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換,采用兩次電測(cè)量,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析,自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響,它與單電測(cè)直線或方形四探針相比,提高度,也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。

四探針軟件測(cè)試系統(tǒng)是一個(gè)運(yùn)行在計(jì)算機(jī)上擁有友好測(cè)試界面的用戶程序,通過此測(cè)試程序輔助使用戶簡便地進(jìn)行各項(xiàng)測(cè)試及獲得測(cè)試數(shù)據(jù)并對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析。

測(cè)試程序控制四探針進(jìn)行測(cè)量并采集測(cè)試數(shù)據(jù),把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以分析,然后把測(cè)試數(shù)據(jù)以表格,圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對(duì)采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看,還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中,讓用戶對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。

北京華測(cè)*四探針測(cè)試儀器產(chǎn)品應(yīng)用

HCTZ-2S四探針采用四探針雙電測(cè)量方法,是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫、真空及氣氛條件下測(cè)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示,無需人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能。采用精度AD芯片控制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,配備10英寸觸摸屏,軟件可保存和打印數(shù)據(jù),自動(dòng)生成報(bào)表;本儀器可顯示電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率,配備不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購。

產(chǎn)品特點(diǎn)
1.TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù): 光耦與隔離無非是提高儀器的采集的抗干擾處理,對(duì)于閃絡(luò)放電過程中的浪涌對(duì)控制系統(tǒng)的防護(hù)起不到任何作用。華測(cè)TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù),將起到對(duì)控制系統(tǒng)的防護(hù)。
2.多級(jí)循環(huán)溫度采集技術(shù): 設(shè)備采用PID算法,以及多級(jí)循環(huán)溫度采集以保證溫度的有效值。控溫和測(cè)溫采用同一個(gè)傳感器,保證樣品每次采集的溫度都是樣品實(shí)際溫度.
3.雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)及隔離屏蔽技術(shù): 本設(shè)備不僅具備過壓、過流保護(hù)系統(tǒng),它*的雙系統(tǒng)互鎖機(jī)制,當(dāng)任何元器件出現(xiàn)問題或單系統(tǒng)出現(xiàn)故障時(shí),將瞬間切斷 電源。采用低通濾波電流檢測(cè)技術(shù)以保證采集電流的有效值 ,以及電流抗干擾的屏蔽。
4.SPWM電子升壓技術(shù):采用SPWM電子升壓技術(shù),這一技術(shù)具有升壓速度平穩(wěn),精度高。

軟件平臺(tái)

HCTZ-800系統(tǒng)搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的hcpro軟件,具備彈性的自定義功能,可進(jìn)行電壓、電流、溫度、時(shí)間等設(shè)置,符合導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料與其他新材料測(cè)試多樣化的需求。

測(cè)試系統(tǒng)的軟件平臺(tái)hcpro,采用labview系統(tǒng)開發(fā),符合導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料的各項(xiàng)測(cè)試需求,具備穩(wěn)定性和安全性,并具備斷電資料的保存功能,圖像資料可保存恢復(fù),兼容XPwin7、win10系統(tǒng)。

軟件功能

  1. 可編輯樣品名稱、牌號(hào)、試驗(yàn)條件、試驗(yàn)單位等;

  2. 具有試驗(yàn)電壓設(shè)置功能;

  3. 可選擇試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

  4. 可選擇是否自定義或自動(dòng)試驗(yàn)

  5. 截止條件:時(shí)間/電壓/電流/溫度;

  6. 語音提示:可選擇是否語音提示功能。

  7. 統(tǒng)計(jì)報(bào)告:可自定報(bào)表格式

  8. 可生出PDF、CSV、XLS文件格式

  9. 分析功能:可對(duì)測(cè)試的數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)。


技術(shù)參數(shù)

測(cè)量范圍

 阻:1×10-4~2×105Ω,     分辨率:1×10-5~1×102Ω

電阻率:1×10-4~2×105Ω-cm,  分辨率:1×10-5~2×102Ω-cm

方  阻:5×10-4~2×105Ω/□,  分辨率:5×10-5~1×102Ω/□

數(shù)字電壓表

  1. 量程:20.00mV~2000mV

  2. 誤差:±0.1%讀數(shù)±2字

數(shù)控恒流源

  1. 量程:0.1μA,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA100mA,1A

  2. 誤差±0.1%讀數(shù)±2字

四探針探頭

  1. 碳化鎢探針:Ф0.5mm,直流探針間距1.0mm,探針壓力:0~2kg可調(diào)

  2. 薄膜方阻探針:Ф0.7mm,直流或方形探針間距2.0mm,探針壓力:0~0.6kg可調(diào)

注意事項(xiàng)

1、儀器操作前請(qǐng)您仔細(xì)閱讀使用說明書,規(guī)范操作

2、輕拿輕放,避免儀器震動(dòng),水平放置,垂直測(cè)量

3、儀器不使用時(shí)請(qǐng)切斷電源,連接線無需經(jīng)常拔下,避免灰塵進(jìn)入航空插引起短接等現(xiàn)象

4、探針筆測(cè)試結(jié)束,套好護(hù)套,避免人為斷針



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